料金表2

技術相談料

技術相談料(円 / 一時間当たり) 3,500

微細構造解析支援装置料金表(2015年7月改定)

設備 型式 初回講習料
(円)
利用料
(円/1h)
(大学・公的機関)
利用料  (円/1h)
(一般)

技術代行料(円/1h)

(大学・公的機関)

技術代行料(円/1h)

(一般)

電界放射型走査電子顕微鏡 SEM JSM―6500F 14,000 1,100 2,500 4,600 6,000
超高真空・極低温・高磁場 SPM JAFM4500LT 10,500 1,300 7,000 4,800 10,500
マルチビーム超高圧電子顕微鏡  JEM―ARM1300 28,000 3,400 4,900 6,900 8,400
電界放射電子銃搭載分析 TEM JEM―2010F 28,000 2,300 2,300 5,800 5,800
超薄膜評価装置 STEM HD―2000 14,000 2,500 7,200 6,000 10,700

集束イオンビーム

加工観察装置 FIB

FB―2100 17,500 1,800 4,300 5,300 7,800
環境セル対応電子顕微鏡システム TEM JEM2010 14,000 1,000 2,600 4,500 6,100

電子プローブマイクロ

アナライザ FE-EPMA

JXA―8530F 14,000 2,500 7,700 6,000 11,200
複合ビーム加工観察装置 FIB-SEM JIB―4600F/HKD 14,000 2,300 4,600 5,800 8,100

複合ビーム加工観察装置 FIB-SEM

(EDS付属)

JED-2300(EDS)/IB-Z10053T3DEBS(EBSD) 0 300 800 300 800
高速レーザー共焦点顕微鏡(Station1) A1 10,500 2,800 3,800 6,300 7,300
オージェ電子分光装置 AES JAMP―9500F 28,000 2,300 8,100 5,800 11,600
X線光電子分光装置 XPS JPS―9200 28,000 1,700 5,500 5,200 9,000
スピンSEM 10,500 1,700 2,100 5,200 5,600

超高真空STM・スピン

偏極STM装置

STM/AFM,VT―STM 10,500 2,400 4,100 5,900 7,600

時間分解光電子顕微鏡

システム

PEEM―Ⅲ 56,000 2,600 5,700 6,100 9,200
高分解能3次元構造評価装置 Titan3 G2 60-300 28,000 要問合せ 要問合せ 要問合せ 要問合せ

収差補正走査型透過

電子顕微鏡

JEM-ARM200F 28,000 4,500 16,000 8,000 19,500
走査型プローブ顕微鏡 NanoNavi Station SPA300 14,000 100 300 3,600 3,800
超高真空AFM JAFM-4500XT 84,000 900 1,400 4,400 4,900

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